紫外光度計(jì)參數(shù)影響因素

紫外光度計(jì)參數(shù)影響因素

波長(zhǎng)重復(fù)性

定義：多次波長(zhǎng)測(cè)量值中的最大值、最小值之差就叫波長(zhǎng)重復(fù)性。它直接影響儀器的穩(wěn)定性。

測(cè)試方法：用汞燈的253．7rim或氘燈的656．1rim測(cè)試[21；實(shí)測(cè)5次，其最大值和最小值之差即是波長(zhǎng)重復(fù)性(據(jù)美國(guó)NBS和ASTM標(biāo)準(zhǔn)判斷)[1]  。

光譜帶寬

定義：?jiǎn)紊珒x出射狹縫譜面上單位長(zhǎng)度上的光譜數(shù)叫光譜帶寬。

測(cè)試方法：用“譜線輪廓法測(cè)試，檢測(cè)氘燈的特征線656.1nm(或汞燈的特征線253.7nm、546.1nm)。每燈各實(shí)測(cè)3次，取均值即是(美國(guó)NBS標(biāo)準(zhǔn))[1]  。

雜散光

定義：測(cè)量中不應(yīng)該有光的地方有光叫雜散光(SL)。它是分析誤差的主要來(lái)源之一，會(huì)直接限制儀器的檢測(cè)上限。

測(cè)試方法：冷態(tài)開(kāi)機(jī)預(yù)熱30min，SBW=2nm，用標(biāo)準(zhǔn)光源或標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)試口；如：用He—Ne Laser(標(biāo)準(zhǔn)光源)，在632．8±5nm處測(cè)試。實(shí)測(cè)3次，取均值即是(法國(guó)JY標(biāo)準(zhǔn))。用截止濾光片法，在220nm和340nm處測(cè)試。實(shí)測(cè)3次，取均值即是(中國(guó)GB標(biāo)準(zhǔn)，國(guó)際上均如此)。